OLED 像素驱动电路的设计及其性能测试 实验日期:2012 05 28 实验者:张著东
1、 实验目的
(1) 通过实验复习晶体管性能的测试; (2) 强化具体电路设计的能力;
(3) 熟悉OLED 像素驱动电路的结构与特点; (4) 提高综合分析问题的能力。
2、 实验内容
(1) 两管TFT 像素驱动电路的设计与制作
按图1所提供的电路原理,设计出可以测试该驱动电路的实验装置。说明其设计的理由和测试的方法。
(2) 两管TFT 像素驱动电路性能的测试
测量通过OLED 的电流比较其性能,分析图1-(a )与图1-(b )的特性有何不同?
(a ) 输入特定脉宽的扫描信号和数据信号,分别测量通过两种接法的二极管电
流; (b ) 保持数据信号脉宽不变,改变扫描脉冲宽度,分别测量通过两种接法的二
极管电流;
(c ) 保持扫描信号脉冲宽度不变,改变数据脉冲宽度,分别测量通过两种接法
的二极管电流。
3、 实验步骤
3.1 准备好仪器:两个数字信号发生器,一个万用表和一个稳压电压源。 3.2 连接仪器与电路板的测量点 3.3 开始调试并测试 4、 数据分析
4.1 输入特定脉宽的扫描信号和数据信号,分别测量通过两种接法的二极管的电流。 4.1.1可设定测试改变,,5,1data scan cc data scan V V V V Hz f f ====LEDA I 和B LED I 。
分析结果:
数据分析:由于在制作电路的时候,将MOS 管的DS 极接反了。所以不符合了MOS 管的工作从截止区、放大区到饱和区的过程。因此,得出结论是,当MOS 管DS 接反时,漏源电流ID 的变化时呈现从饱和区、放大区和截止区的过程。 4.1.2可设定
测试改变,,9,5,1scan data cc data scan V V V V V Hz f f ====LEDA
I 和B LED I 。
数据分析:当改变扫描信号的时候,源级电路图1的LED 灯电流变化的幅度较小,而恒定电流图2的LED 灯电流变化幅度较大。
4.2 保持数据信号脉宽不变,改变扫描脉宽,分别测量通过两种接法的二极管的电流。 4.2.1 可测试改变,,9,5,1000~1,1scan data scan cc scan
data f V V V V V kHz f Hz f =====
LEDA I 和B LED I 。
数据分析:当改变扫描信号的频率时,LED 灯的电流变化不大,但图1和图2有所差异。图1的接法电流会小于图2的接法。
4.3保持扫描信号脉宽不变,改变数据脉宽,分别测量通过两种接法的二极管的电流。 4.3.1可取
测试
改变,,9,5,1000~1,1scan data scan cc data
scan f V V V V V kHz f
Hz f =====
LEDA I 和B LED I
。
数据分析:随着数据信号频率的增加,两种电路的漏源电流均呈下降趋势,且最终变为0。
5、实验总结
这次实验由于将MOS管的漏源级接反了。所以导致了和理论的违背。
这次实验的经验教训就是在设计电路制作电路板的时候要十分谨慎以免在后面测试有问题。